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Hitachi日立电子显微镜 SEM S-2600N
Hitachi日立电子显微镜 SEM S-2600N

Hitachi日立电子显微镜 SEM S-2600N

Hitachi日立电子显微镜 SEM S-2600N,于2003年投入使用,可用于晶圆检测。...

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TOPCON拓普康芯片外观检测设备Vi4202
TOPCON拓普康芯片外观检测设备Vi4202

TOPCON拓普康芯片外观检测设备Vi4202

TOPCON拓普康芯片外观检测设备Vi4202可以全自动检查在晶片上图案化的芯片和在扩展前切割的晶片(表面朝上/背面朝上)中的微小异物和缺陷,并以芯片为单位确定合格与否。...

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KLA无图案晶圆缺陷检测系统Surfscan SP2
KLA无图案晶圆缺陷检测系统Surfscan SP2

KLA无图案晶圆缺陷检测系统Surfscan SP2

Surfscan系列无图案检测仪旨在实时捕获裸晶圆、光滑和粗糙薄膜和堆叠、光阻和光刻堆叠上的关键缺陷,并对其进行分类。...

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AMAT 半导体检测设备 SEMVision G2
AMAT 半导体检测设备 SEMVision G2

AMAT 半导体检测设备 SEMVision G2

SEMVision G2 的检测组装和处理使微小和浅缺陷的高质量地形图像成为可能。高动态范围检测、背散射电子收集和能量过滤可实现高纵横比成像。...

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日立Hitachi二手电镜CD-SEM CS4800
日立Hitachi二手电镜CD-SEM CS4800

日立Hitachi二手电镜CD-SEM CS4800

CS4800 提供高质量的 SEM 成像、改进的测量精度以及快速、自动化的操作,旨在提高现有生产线的生产力和运营效率,并提高客户的过程控制能力。...

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二手现货 双电子束电镜 FEI XL830
二手现货 双电子束电镜 FEI XL830

二手现货 双电子束电镜 FEI XL830

全200mm晶片、150mm晶片、晶片碎片和短柱安装样品。Loadlock允许样本传输时间<2min;...

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日立CD-SEM二手现货扫描电镜S-9220
日立CD-SEM二手现货扫描电镜S-9220

日立CD-SEM二手现货扫描电镜S-9220

日立CD-SEM二手现货扫描电镜S-9220适用于8英寸晶圆的监测,CD检测范围0.1~2.0μm,最大吞吐量45wph,放大倍数1000~300,000。...

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特征尺寸测量用扫描电镜CD-SEM S-8840
特征尺寸测量用扫描电镜CD-SEM S-8840

特征尺寸测量用扫描电镜CD-SEM S-8840

特征尺寸测量用扫描电子显微镜CD-SEM S-8840,适用于6英寸和8英寸晶圆的线宽测试。...

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日立新型超高分辨SU8600扫描电镜
日立新型超高分辨SU8600扫描电镜

日立新型超高分辨SU8600扫描电镜

日立新型超高分辨SU8600扫描电镜用于半导体样品的形貌、结构研究及样品的元素分析。...

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超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列
超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列

超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列

现有机型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合,衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regulus8100。...

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透射电子显微镜HT7800系列
透射电子显微镜HT7800系列

透射电子显微镜HT7800系列

"RuliTEM"120 kV透射电子显微镜系列,包含配备高衬度透镜,实现大视野、高对比度观察的HT7800和配备同级别最高分辨率透镜的HT7830...

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球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700
球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700

球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700

专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统...

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